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氧化锌压敏电阻在交流电压作用下的老化：
当施加交流电压一定时间后，氧化锌压敏电阻的U-I特性曲线发生对称变化，除了特性曲线的变化是对称的特点外，改变的趋势与施加直流电压的趋势相近。试验时所施加的交流电压梯度为65V/mm，温度为70℃。试验还表明，不论是直流还是交流作用电压，老化试验后压敏电阻U-I 特性在预击穿区（即低电场区域）的变化程度要比击穿区即（中电场区域）大得多。
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静态电容量（PF）
静态电容量指压敏电阻器本身固有的电容容量。
响应时间τ
IEEE定义的压敏电阻的响应时间τ并不是压敏电阻材料本身的特性，而是由测试波形、引线、印制电路版的布线方式、外部测试连接线，以及它们所构成的磁环路等外部原因造成的，根据这一定义，对8/20 μs标准雷电流波或TS>8 μs的电流波，压敏电阻的响应时间τ＝0。
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ＺｎＯ 压敏电阻的微观结构分析发现，形成的四个主要 成分是 ＺｎＯ、尖晶石、焦绿石和一些富 Ｂｉ 相（图 ３）。图 中也指明了组分存在的部位，还存在一些用现有技术尚不 易检测出来的其它次要相。 ＺｎＯ 压敏电阻的典型晶粒尺寸在１５和２０μｍ 之间， 并且也总是伴有双晶。ＳｉＯ２的存在抑制晶粒生长，而 ＴｉＯ２ 和 ＢａＯ 则加速晶粒长大。尖晶石和焦绿石相对晶粒长大有 抑制作用。焦绿石相在低温时起作用，而尖晶石相在高温 时有利。当用盐酸浸蚀晶粒时，中间相呈现出在电性上绝 缘的三维网络。 烧结形成的 ＺｎＯ 晶粒是 ＺｎＯ 压敏电阻的基本构成单纯 ＺｎＯ 是具有线性 Ｉ－Ｕ 特性的非化学计量 ｎ 型半导 体。进入 ＺｎＯ 中的各种添加物使其具有非线性。这些氧 化物中主要是 Ｂｉ ２Ｏ３。这些氧化物的引入，在晶粒和晶粒 边界处形成原子缺陷，施主或类施主缺陷支配着耗尽层， 而受主和类受主缺陷支配着晶粒边界状态。相关的缺陷类 型是锌空位（Ｖ Ｚｎ＇、Ｖ Ｚｎ＇＇）、氧空位（Ｖ ｏ 、Ｖ ｏ ）、填隙锌
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